射頻測(ce)(ce)試工藝(yi)通常(chang)(chang)是手機等無線(xian)(xian)通訊類設備產線(xian)(xian)中最為復雜、影響大的(de)流(liu)程(cheng)，通常(chang)(chang)也是產線(xian)(xian)的(de)瓶頸。射頻測(ce)(ce)試站(zhan)通常(chang)(chang)由測(ce)(ce)試儀表、屏蔽室、測(ce)(ce)試軟件等幾部分構成(cheng)，通常(chang)(chang)又(you)可分為校準測(ce)(ce)試、綜合測(ce)(ce)試、天線(xian)(xian)測(ce)(ce)試等等幾類。

由于產能的要求，通常射頻測試工藝由多個相同的測試站并行運行。某個或某些測試工位的通過率偏低；產出降低就會導致產線瓶頸、生產成本劇增，而究其原因，大致可分為： 產品設計或物料原因、測試的問題（誤測問題）、射頻干擾等環境因素、測試的不確定問題。

電磁干擾/EMI是整個電子(zi)領域目前必須面臨和克服的一個問題，一般在(zai)無(wu)線(xian)(xian)(xian)通訊產品比如：手機、無(wu)線(xian)(xian)(xian)網卡(ka)、無(wu)線(xian)(xian)(xian)路(lu)由器、無(wu)線(xian)(xian)(xian)耳機、藍牙耳機、wi-fi、wimax、數據(ju)卡(ka)、對講機、RFID等等無(wu)線(xian)(xian)(xian)通訊類(lei)設(she)備和無(wu)線(xian)(xian)(xian)通訊類(lei)模塊等在(zai)進行(xing)板測(ce)(ce)、終測(ce)(ce)過(guo)程中，都是通過(guo)使用射頻測(ce)(ce)試屏蔽箱/RF Shield Box來(lai)改善測(ce)(ce)試環(huan)境的。